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Die Stablichtschrankenserie EZ mit diffus-reflektierender Erfassung wurde für eine stabile Oberflächenerkennung über schmale oder längliche Zielbereiche entwickelt, in denen ein herkömmlicher Punktlichtstrahl weniger effektiv sein kann. Ihr stabförmiger Erfassungsbereich verbessert die Erkennungskonsistenz auf unebenen, perforierten oder gemusterten Oberflächen und macht sie zu einer praktischen Lösung für die Erkennung dünner Materialien, kleiner Komponenten und unregelmäßiger Werkstücke. Die EZ-Serie eignet sich besonders für PCB-Inspektion, Elektronikmontage, Erkennung von Bahn- und Plattenmaterialien sowie andere industrielle Anwendungen, die eine zuverlässige reflektierende Erfassung über einen definierten linearen Bereich erfordern.
Die Stablichtschrankenserie EZ mit diffus-reflektierender Erfassung wurde für eine stabile Oberflächenerkennung über schmale oder längliche Zielbereiche entwickelt, in denen ein herkömmlicher Punktlichtstrahl weniger effektiv sein kann. Ihr stabförmiger Erfassungsbereich verbessert die Erkennungskonsistenz auf unebenen, perforierten oder gemusterten Oberflächen und macht sie zu einer praktischen Lösung für die Erkennung dünner Materialien, kleiner Komponenten und unregelmäßiger Werkstücke. Die EZ-Serie eignet sich besonders für PCB-Inspektion, Elektronikmontage, Erkennung von Bahn- und Plattenmaterialien sowie andere industrielle Anwendungen, die eine zuverlässige reflektierende Erfassung über einen definierten linearen Bereich erfordern.
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